使用基于硬币的方法评估通用X光机中自动曝光控制系统重复性的研究

《Radiological Physics and Technology》：Evaluation of the reproducibility of automatic exposure control systems in general X-ray machines using a coin-based method

　　本研究评估了SIEMENS Multix Top和DRGEM GXR-40S X光机AEC系统的重复性，测试条件包括管电压、灵敏度设置、硬币堆叠厚度及传感器位置，结果显示mA值存在波动但变异系数均低于5%，符合AAPM标准要求。

　　

摘要

数字放射成像中的自动曝光控制（AEC）根据选定的毫安（mA）和患者的解剖特征调整曝光时间，以确保提供适当的辐射剂量以获得最佳图像质量。本研究旨在评估不同条件下通用X光机中AEC系统的再现性。在两台通用X光机（SIEMENS Multix Top和DRGEM GXR-40S）上对AEC的再现性进行了评估。这两种系统都提供了三种灵敏度设置（高、中和低）。使用了一叠泰国十泰铢硬币（一层和五层）作为测试对象，并将其直接放置在AEC传感器上。进行了十次曝光以进行重复测量。计算了毫安（mA）值的差异和变异系数（CV），并使用Mann–Whitney U检验进行了统计分析。结果表明，毫安值会随着管电压、灵敏度设置、物体厚度和传感器位置的变化而变化；然而，这些变化仍在可接受的范围内。在较低的管电压（80–81 kVp）、较低的灵敏度设置（D或Slow）以及五层硬币厚度的情况下，观察到了较高的毫安值。在较高的管电压（100 kVp）和较高的灵敏度设置（H或Fast）下，未观察到显著差异（p > 0.05）。总之，AEC再现性测试显示，SIEMENS系统的平均毫安值范围为0.51–3.25，最大变异系数为2.60%；DRGEM系统的平均毫安值范围为0.37–1.62，最大变异系数为3.37%。这两种系统均符合AAPM报告第150号推荐的国际标准指南，其变异系数低于5.00%，从而证实了在不同条件下的毫安值是一致的。