温度调控下MoSi2 N4 /CrS2 异质结界面光生载流子动力学机制研究

【字体: 时间:2025年06月11日 来源:Applied Surface Science 6.3

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  针对二维vdW异质结中光生载流子分离效率与温度效应的科学问题,研究人员通过非绝热分子动力学(NAMD)模拟揭示了MoSi2 N4 /CrS2 界面电子-空穴传输规律:低温(100 K)可显著延长载流子寿命至11.7 ns并优化空穴传输效率,为光电器件设计提供理论依据。

  

论文解读
在能源危机与环境污染的双重压力下,太阳能转换技术成为研究热点。二维材料因其独特的电子结构和可调控性备受关注,其中MoSi2
N4
虽具有高载流子迁移率(1200 cm2
V?1
s?1
),但其光吸收效率低制约了应用。构建范德华(vdW)异质结是突破这一瓶颈的有效策略,但温度如何影响界面载流子动力学尚不明确。河南师范大学的研究团队通过非绝热分子动力学(NAMD)模拟,首次系统揭示了MoSi2
N4
/CrS2
异质结在100-500 K温度区间的载流子行为,相关成果发表于《Applied Surface Science》。

关键技术方法
研究采用维也纳第一性原理计算软件包(VASP)进行结构优化与电子性质计算,结合非绝热耦合(NAC)理论和Fewest Switches表面跳跃算法模拟载流子动力学。通过构建六种堆叠构型验证稳定性,并分析导带最小值(CBM)与价带最大值(VBM)的能带排列。

研究结果

  1. 稳定性与电子性质:MoSi2
    N4
    /CrS2
    呈现II型能带排列(间接带隙1.52 eV),可见光吸收优于单组分材料。
  2. 温度依赖的电子传输:升温(100→500 K)使电子转移时间从145.1 fs缩短至37.4 fs,源于CBM附近非绝热耦合增强。
  3. 空穴传输优化机制:100 K时空穴转移效率最高,且电子-空穴复合寿命延长至11.7 ns,归因于VBM-CBM耦合减弱和退相位时间缩短。

结论与意义
该研究证明低温(100 K)可协同提升MoSi2
N4
/CrS2
异质结的载流子分离效率与寿命,为设计高效光电器件提供了温度调控新思路。通过量化非绝热耦合与退相位时间的竞争效应,填补了温度影响异质结动力学机制的认知空白,对开发新型太阳能转换材料具有重要指导意义。

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