双重转座子测序揭示细菌遗传互作全景，破解基因功能“暗物质”

　　来自荷兰的研究团队开发了双重转座子测序（dual Tn-seq）技术，通过Cre-lox系统整合双条形码，实现了对肺炎链球菌百万级双突变体的并行适应性分析。该方法成功鉴定出244个高置信度遗传互作（包括合成致死），揭示了未知基因功能，为抗菌耐药研究提供了新工具。

　　

科学家们开发出名为双重转座子测序（dual transposon sequencing, dual Tn-seq）的高通量技术，巧妙结合随机条形码转座子测序（RB-Tn-seq）与Cre-lox重组系统，成功绘制了细菌遗传互作图谱。该技术通过Cre重组酶介导的DNA条形码融合，使单个细胞中两个遥远转座子插入位点的标识符能够被同步捕获，从而实现对数百万双突变体适应性的并行评估。

在人类病原体肺炎链球菌（Streptococcus pneumoniae）中的应用表明，该方法可深度采样约130万种可能双基因缺失组合中的73%，并利用概率模型比较观测与预期双突变体频率，最终鉴定出244个涵盖合成致死至部分生长缺陷的高置信度遗传互作。这些互作涉及多种生化通路，例如揭示了替代性CTP合成酶PyrJ的功能和肽聚糖合成调控新因子。

该平台仅需诱导型启动子、转座子突变体构建能力及功能性cre元件即可实现，具有高度可扩展性和成本效益。随着测序成本降低，dual Tn-seq有望广泛应用于多种微生物，并通过不同生长条件（如抗生素处理、营养环境）拓展其应用维度，为微生物学研究和药物靶点发现开辟新途径。